導致金聯(lián)宇電纜毛病的原因有以下幾點：

電纜過熱:
    
    構(gòu)成電纜過熱的原因有許多。內(nèi)因是電纜絕緣內(nèi)部氣隙游離構(gòu)成部分受熱，從而使絕緣炭化。外因是安裝在電纜密布區(qū)域、電纜地道等處的電纜，穿在枯燥管中的電纜以及與管道挨近的電纜，會因電纜過負荷或散熱不良，而使絕緣加快損壞。

　　機械損害:
   
    主要是指外力效果構(gòu)成的電纜損害。這主要是因為車輛振蕩等機械效果，使電纜變形。電纜變形導致曲折過度，損壞了內(nèi)絕緣或?qū)е陆^緣內(nèi)部產(chǎn)氣憤隙。

　　護層腐蝕:

    因為電解效果或化學效果使電纜鉛包腐蝕，因腐蝕性質(zhì)和程度的不同，鉛包上有赤色、黃色、橙色和淡黃色的化合物或相似海綿的細孔。

　　過電壓構(gòu)成擊穿:
    
    大氣過電壓和內(nèi)部過電壓使電纜絕緣所接受的應力超越答應值而構(gòu)成擊穿。
并且，對實踐毛病進行剖析標明，許多野外終端頭毛病，是因為大氣過電壓引起的。

　　中心接頭、終端頭的規(guī)劃和制造工藝問題:
   
    剝離半導體時，損壞內(nèi)絕緣或絕緣外表有微粒、塵埃等雜質(zhì)；電纜頭密封不良，使絕緣內(nèi)部有水分，導致絕緣受潮；電纜接頭工藝不標準，密封不標準，構(gòu)成接地；制造環(huán)境濕度偏大，引起制造部位(電纜頭)絕緣整體性受潮；電纜接地呈現(xiàn)過錯，導致接地線構(gòu)成環(huán)流或開裂。